Koszyk
(0)
Soczewka skupiająca do plotera lasera CO2 20mm ogniskowa 101,6mm
193,73 zł
Brutto
157,5 zł Netto
Dane techniczne:
- Materiał: ZnSe PVD
- Długość fali: 10.6 um
- Średnica soczewki: 20 mm
- Tolerancja średnicy: + 0/-0.1mm
- Ogniskowa: 101,6 mm / 4" cale
- Tolerancja ogniskowej: ± 2%
- Transmitancja: 99.5%
- Współczynnik powłoki przeciwodblaskowej: < 0.3%
- Grubość: 2.6 mm
Wysokiej jakości materiał PVD ZnSe gwarantuje doskonałe właściwości optyczne soczewki (Odporność na laser CO2 o mocy do 80W). Dwustronna powłoka antyrefleksyjna zmniejsza straty laserowe (Transmitancja lasera do 99.5%). Soczewka jest odporna na wysokie temperatury generowane przez laser, co przekłada się na jej długą żywotność.
Dane techniczne:
- Materiał: ZnSe PVD
- Długość fali: 10.6 um
- Średnica soczewki: 20 mm
- Tolerancja średnicy: + 0/-0.1mm
- Ogniskowa: 101,6 mm / 4" cale
- Tolerancja ogniskowej: ± 2%
- Transmitancja: 99.5%
- Współczynnik powłoki przeciwodblaskowej: < 0.3%
- Grubość: 2.6 mm
Wysokiej jakości materiał PVD ZnSe gwarantuje doskonałe właściwości optyczne soczewki (Odporność na laser CO2 o mocy do 80W). Dwustronna powłoka antyrefleksyjna zmniejsza straty laserowe (Transmitancja lasera do 99.5%). Soczewka jest odporna na wysokie temperatury generowane przez laser, co przekłada się na jej długą żywotność.
00043793
2 szt.
Opis
- Ogniskowa
- 101,6 mm
- Średnica
- 20 mm
Specyficzne kody
Klienci którzy zakupili ten produkt kupili również:
Dane techniczne:
- Materiał: ZnSe PVD
- Długość fali: 10.6 um
- Średnica soczewki: 20 mm
- Tolerancja średnicy: + 0/-0.1mm
- Ogniskowa: 101,6 mm / 4" cale
- Tolerancja ogniskowej: ± 2%
- Transmitancja: 99.5%
- Współczynnik powłoki przeciwodblaskowej: < 0.3%
- Grubość: 2.6 mm
Wysokiej jakości materiał PVD ZnSe gwarantuje doskonałe właściwości optyczne soczewki (Odporność na laser CO2 o mocy do 80W). Dwustronna powłoka antyrefleksyjna zmniejsza straty laserowe (Transmitancja lasera do 99.5%). Soczewka jest odporna na wysokie temperatury generowane przez laser, co przekłada się na jej długą żywotność.